画像処理によるひび割れ点検支援システム「VIS＆TFC」を発売

日本システムウエアと日本工営は、東京理科大学理工学部土木工学科小島研究室の特許を利用し、ひび割れ点検支援システム「VIS&TFC」を開発し、2021年10月1日から販売を開始した。画像処理により、ひび割れ検査作業の効率化と精度向上を実現する。