テストスピードが従来比2倍のメモリテスター

アドバンテストは、メモリテストシステムの新製品「T5835」を発表した。テストスピードが最大5.4Gビット/秒と従来機の2倍以上となり、パッケージ試験に加えて高速ウエハー試験にも対応する。768個のデバイスを同時に測定可能だ。