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TechWatch
キヤノンの顔認証技術が米国国立標準技術研究所(NIST)主催のベンチマークで日本1位/世界トップクラスに
トピックス
Posted by
ASCII.jp - トップ
12/27/2021
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キヤノンは米国国立標準技術研究所(NIST)が主催する顔認証ベンチマークテストにて、同社のアルゴリズムが日本1位/世界トップクラスの精度を達成したと発表した。
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