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小型で携帯可能なUSBメモリは、データの書き込みや消去に伴い次第に劣化していきます。一般的なUSBメモリがどれほどの書き込みに耐えられるのかを知るべく、エンジニアのゴフ・ルイ氏は3つのUSBメモリを用いて耐久性のテストを行いました。

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